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机译:半自动测试固定式RAM存储器特别是其可靠性的测量装置
公开/公告号PL155108B1
专利类型
公开/公告日1991-10-31
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号PL19870267987
发明设计人
申请日1987-09-30
分类号G11C29/00;G06F11/00;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 05:57:40
机译: 测量设备,尤其是用于RAM静态内存可靠性的半自动调查
机译: 用于研究润滑剂和材料性能的钻机-具有用于固定测试组件的支架,用于测量传递力的装置,摆动的驱动单元和用于提高可靠性的装载装置
机译: 手持式用于测量和测试电流,电压,电阻器和连续性测试的测量设备,并带有声音显示和集成显示,以提高使用的可靠性