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METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING MICROPROCESSOR-BASED UNIT AND/OR COMPONENT THEREOF

机译:用于检查基于微处理器的单元和/或其组件的方法和装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号GB9110044D0

    专利类型

  • 公开/公告日1991-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JAPAN ELECTRONIC CONTROL SYST;

    申请/专利号GB19910010044

  • 发明设计人

    申请日1991-06-12

  • 分类号F02B77/08;F02D41/22;F02D41/26;G01R31/00;G01R31/28;G06F11/273;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-22 05:47:31

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