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SEMCONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING A TEST CIRCUIT

机译:半导体集成电路正在测试的电路

摘要

A semiconductor integrated circuit has a discrimination circuit connected between power source terminals (VDD,VSS) and three input terminals (IN1-IN3), the discrimination circuit discriminating specific operating modes with option functions. The discrimination circuit includes a voltage limiter (22) for limiting an input potential applied to the input terminals in opposition to the power sources, to a predetermined input logic level and an option means (24) connected to the limiter (22) to determine the current flow of the limiter (22) in a chip manufacturing process.
机译:半导体集成电路具有在电源端子(VDD,VSS)和三个输入端子(IN1-IN3)之间连接的鉴别电路,该鉴别电路利用选项功能来鉴别特定的工作模式。判别电路包括:电压限制器(22),用于将施加到与电源相反的输入端子上的输入电势限制到预定的输入逻辑电平;以及选择装置(24),连接到限制器(22)以确定电压。限制器(22)在芯片制造过程中的电流。

著录项

  • 公开/公告号KR920007535B1

    专利类型

  • 公开/公告日1992-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR19900007481

  • 发明设计人 CHON DONG - SU;SOK YONG - SHIK;

    申请日1990-05-23

  • 分类号H01L27/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 05:28:20

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