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Automatic test signal generation for mixed-signal integrated circuits using circuit partitioning and interval analysis

机译：使用电路划分和间隔分析为混合信号集成电路自动生成测试信号

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Coyette Anthony; Esen Vahap Baris; Vanhooren Ronny; Dobbelaere Wim; Gielen Georges;
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年度 2016
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