首页> 外国专利> Search probe - tamper combination, a device for setting and for the localization of vermarkungsmaterialien for the surveying,

Search probe - tamper combination, a device for setting and for the localization of vermarkungsmaterialien for the surveying,

机译:搜索探针-篡改组合,用于设置和定位vermarkungsmaterialien的测量设备,

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE9413696U1

    专利类型

  • 公开/公告日1994-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WIECKOWSKI MARIA 65197 WIESBADEN DE;

    申请/专利号DE19940013696U

  • 发明设计人

    申请日1994-08-25

  • 分类号G01C15/00;G01C15/04;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 04:34:07

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