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Field effect transistor structure heavily doped source/drain regions and lightly doped source/drain regions

机译:场效应晶体管结构重掺杂的源/漏区和轻掺杂的源/漏区

摘要

A field effect transistor structure includes heavily doped source/drain regions and lightly doped source/drain regions, The lightly doped source/drain regions extend form the source drain regions partway under a sidewall spacer adjacent a gate electrode. Very lightly doped source/drain regions extend the remainder of the way under the sidewall spacers to provide improved transistor characteristics.
机译:场效应晶体管结构包括重掺杂的源极/漏极区域和轻掺杂的源极/漏极区域。轻掺杂的源极/漏极区域从源极漏极区域延伸到与栅电极相邻的侧壁间隔物下方的中途。轻度掺杂的源极/漏极区域在侧壁隔离层下方延伸了其余部分,以提供改善的晶体管特性。

著录项

  • 公开/公告号US5422506A

    专利类型

  • 公开/公告日1995-06-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SGS-THOMSON MICROELECTRONICS INC.;

    申请/专利号US19940316814

  • 发明设计人 MEHDI ZAMAPIAN;

    申请日1994-10-03

  • 分类号H01L29/10;H01L29/78;H01L29/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:04:52

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