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Precision dicing of silicon chips from a wafer

机译:从晶圆上精确切割硅芯片

摘要

A wafer design and dicing technique for creating semiconductor chips from wafers. A succession of oxide layers are deposited in first and second regions of a surface of a silicon substrate. The regions are separated by a street having no oxide layers therein, and the successive oxide layers form a vertical wall with a surface normal to the surface of the silicon substrate. A shock-absorbent material is deposited in the street, forming a concave meniscus therein. The shock-absorbent material retards the trajectories of silicon particles set into motion when the wafer is diced into chips.
机译:用于从晶片创建半导体芯片的晶片设计和切割技术。一系列的氧化物层沉积在硅衬底的表面的第一和第二区域中。这些区域被其中没有氧化物层的街道隔开,并且连续的氧化物层形成垂直壁,该垂直壁的表面垂直于硅衬底的表面。减震材料沉积在街道上,在其中形成凹弯月面。当晶片切成小片时,减震材料可阻止硅颗粒的运动轨迹。

著录项

  • 公开/公告号US5521125A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 XEROX CORPORATION;

    申请/专利号US19940328789

  • 发明设计人 JOSEF E. JEDLICKA;BRIAN T. ORMOND;

    申请日1994-10-28

  • 分类号H01L21/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 03:38:29

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