机译:使用基于气相化学侵蚀的多孔硅制造技术对硅进行蚀刻的技术及其应用,特别是在半导体组件或组件的生产中。
公开/公告号TNSN01141A1
专利类型
公开/公告日2003-04-03
原文格式PDF
申请/专利号TN2001SN00141
发明设计人 SAADOUN MONCEF;BEN JABALLAH ABDELKADER;BESSAIS BRAHIM;EZZAOUIA HATEM;FERID MOKHTAR;MLIKI NAJEH;
申请日2001-10-05
分类号
国家 TN
入库时间 2022-08-22 00:01:11