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THERMAL MECHANICAL PLANARIZATION IN INTEGRATED CIRCUITS

机译:集成电路中的热机械平面化

摘要

PURPOSE: Thermal mechanical planarization in integrated circuits is provided to accommodate the low-k material when forming the interconnect and to achieve an inexpensive, high product throughput, and simple process. CONSTITUTION: A method for planarization of ILD layers on a semiconductor wafer(14) includes providing an oven having a wafer holder(26) therein, placing the semiconductor wafer on the wafer holder, and simultaneously applying mechanical pressure and heat to the ILD layer on the semiconductor wafer using a mechanical device.
机译:目的:提供集成电路中的热机械平面化功能,以在形成互连时容纳低k材料,并实现廉价,高产品吞吐量和简单工艺。组成:一种用于平坦化半导体晶圆(14)上的ILD层的方法,包括提供一个烤箱,该烤箱内有一个晶圆支架(26),将半导体晶圆放置在晶圆支架上,并同时向其上的ILD层施加机械压力和热量使用机械设备对半导体晶圆进行处理。

著录项

  • 公开/公告号KR20020084834A

    专利类型

  • 公开/公告日2002-11-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHARTERED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING LTD.;

    申请/专利号KR20020024509

  • 发明设计人 LEONG LUP SAN;

    申请日2002-05-03

  • 分类号H01L21/302;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 23:48:41

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