首页> 外国专利> - SUPPRESSION OF N-TYPE AUTODOPING IN LOW-TEMPERATURE SI AND SIGE EPITAXY

- SUPPRESSION OF N-TYPE AUTODOPING IN LOW-TEMPERATURE SI AND SIGE EPITAXY

机译:-抑制低温SI和SIGE外延中的N型自掺杂

摘要

A method of manufacturing a semiconductor device, the at least one stack comprising a layer of the different layers are trailing n- type doped semiconductor material of the semiconductor material includes a step of growing by epitaxy, the stack is a constant manufacturing methods are grown in the growth cycle.
机译:一种制造半导体器件的方法,该至少一个堆叠包括一层不同的层是尾随的n型掺杂半导体材料,该半导体材料包括通过外延生长的步骤,该堆叠是一种不断生长的制造方法生长周期。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号