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Suppression of n-type autodoping in low-temperature Si and SiGe epitaxy

机译:低温Si和SiGe外延中n型自掺杂的抑制

摘要

A method of manufacturing a semiconductor device, which method comprises the step of epitaxially growing a stack comprising an n-type doped layer of a semiconductor material followed by at least one further layer of a semiconductor material, the stack being grown in one continuous cycle.
机译:一种制造半导体器件的方法,该方法包括以下步骤:外延生长包括半导体材料的n型掺杂层的堆叠,随后是至少另一半导体材料层,该堆叠以一个连续的周期生长。

著录项

  • 公开/公告号US6838359B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WIEBE BARTELD DE BOER;

    申请/专利号US20020113053

  • 发明设计人 WIEBE BARTELD DE BOER;

    申请日2002-04-01

  • 分类号H01L2120;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:19:00

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