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Adjustment manner, aberration measuring method and aberration measurement mark null of alignment

机译:调整方式,像差测定方法及像差测定标记对准不良

摘要

In an alignment apparatus, an alignment mark formed on a substrate is illuminated through an illuminating optical system, and an image of the alignment mark is projected onto a light receiving surface of a CCD camera through an enlarging optical system. The enlarging optical system includes a parallel flat plate, the inclination of which can be adjustable, for parallel-translating an eccentric component of coma.
机译:在对准设备中,形成在基板上的对准标记通过照明光学系统被照明,并且对准标记的图像通过放大光学系统被投影到CCD相机的光接收表面上。放大光学系统包括平行平板,其倾斜度是可调节的,用于平行移动彗形偏心分量。

著录项

  • 公开/公告号JP3513031B2

    专利类型

  • 公开/公告日2004-03-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社東芝;

    申请/专利号JP19980287837

  • 发明设计人 野村 博;河野 拓也;

    申请日1998-10-09

  • 分类号G03F7/20;H01L21/027;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 23:23:42

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