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Sidewall strap for complementary semiconductor structures and method of making same

机译:用于互补半导体结构的侧壁带及其制造方法

摘要

Devices, structures, and methods for enhancing devices using dual-doped polycrystalline silicon are discussed. One aspect of the present invention includes a p-type strip having a top, a bottom, two sides, and two ends; an n-type strip having a top, a bottom, two sides, and two ends; and a conductive inhibitor strip that adjoins a portion of one of the two sides of the p-type strip and a portion of one of the two sides of the n-type strip so as to inhibit cross-diffusion between the p-type strip and the n-type strip while electrical connection between n-type and p-type polycrystalline silicon is maintained.
机译:讨论了使用双掺杂多晶硅增强器件的器件,结构和方法。本发明的一个方面包括一种p型条,其具有顶部,底部,两个侧面和两个末端。 n型条,其具有顶部,底部,两个侧面和两个末端;导电抑制带,其邻接p型带的两侧的一部分和n型带的两侧的一部分,以抑制p型带与p型带之间的交叉扩散。在保持n型多晶硅与p型多晶硅之间的电连接的同时,保持n型带。

著录项

  • 公开/公告号US6770921B2

    专利类型

  • 公开/公告日2004-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US20010945337

  • 申请日2001-08-31

  • 分类号H01L298/00;H01L299/40;H01L236/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:17:38

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