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Semiconductor structures using a group III-nitride material system with reduced phase separation and method of fabrication

机译:使用具有减小的相分离的III族氮化物材料系统的半导体结构及其制造方法

摘要

Group III-nitride quaternary and pentenary material systems and methods are disclosed for use in semiconductor structures, including laser diodes, transistors, and photodetectors, which reduce or eliminate phase separation and provide increased emission efficiency. In an exemplary embodiment the semiconductor structure includes a first ternary, quaternary or pentenary material layer using BlnGaAlN material system of a first conduction type formed substantially without phase separation, and a quaternary or pentenary material active layer using BlnGaAlN material system substantially without phase separation, and a third ternary, quaternary or pentenary material layer using BlnGaAlN material system of an opposite conduction type formed substantially without phase separation.
机译:公开了用于半导体结构的III族氮化物第四和五进制材料系统和方法,所述半导体结构包括激光二极管,晶体管和光电检测器,其减少或消除了相分离并提供了增加的发射效率。在示例性实施例中,半导体结构包括使用基本没有相分离而形成的第一导电类型的BlnGaAlN材料系统的第一三元,四元或五元材料层,以及使用基本上没有相分离的BlGaAlN材料系统的四元或五元材料活性层,以及使用基本上没有相分离形成的相反导电类型的BlnGaAlN材料系统的第三三元,四元或五元材料层。

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