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THREE-TANK AND ONE-BATH TYPE AUTOMATIC WAFER CLEANING APPARATUS

机译:三槽一浴式自动晶圆清洗装置

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the footprint of an automatic wafer cleaning apparatus in a batch process for making a wafer more clean and improving its cleaning effect.;SOLUTION: The apparatus as a whole is put under a clean nitrogen gas atmosphere to prevent the occurrence of a natural oxide film. The apparatus uses a minimum required amount of a chemical solution, and has a limited size of a three-tank structure to reduce its footprint as a whole.;COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
机译:解决的问题:减少批量处理过程中自动晶圆清洗设备的占地面积,以使晶圆更清洁并提高其清洗效果。解决方案:将设备整体放在干净的氮气气氛中以防止天然氧化膜的发生。该设备使用最少量的化学溶液,并具有有限的三罐结构尺寸,以减少总体上的占地面积。;版权所有:(C)2006,JPO&NCIPI

著录项

  • 公开/公告号JP2006156924A

    专利类型

  • 公开/公告日2006-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HAMAYA SUMIO;

    申请/专利号JP20040382428

  • 发明设计人 HAMAYA SUMIO;

    申请日2004-11-29

  • 分类号H01L21/304;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 21:55:46

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