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Method for correcting timing error when designing semiconductor integrated circuit

机译:设计半导体集成电路时定时误差的校正方法

摘要

A method for correcting a timing error in an integrated circuit that includes a plurality of layout blocks with identical configurations in the same hierarchical layer. The method includes matching the tolerance for when a timing error occurs for a cell in each layout block with a worst condition of one of the corresponding cells in the layout blocks, and inserting a timing adjustment cell within a range of the matched tolerance of each cell to adjust the timing error. This method ensures the correction of hold errors and setup errors in an integrated circuit designed with a hierarchical design technique.
机译:一种用于校正集成电路中的定时误差的方法,该集成电路包括在同一分层层中具有相同配置的多个布局块。该方法包括:使每个布局块中的单元发生定时误差时的公差与布局块中的对应单元之一的最坏情况相匹配;以及在每个单元的匹配公差的范围内插入定时调整单元。调整定时误差。这种方法可确保校正采用分层设计技术设计的集成电路中的保持误差和设置误差。

著录项

  • 公开/公告号US2006117286A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HIROAKI ANDO;TERUMI YOSHIMURA;

    申请/专利号US20050080543

  • 发明设计人 HIROAKI ANDO;TERUMI YOSHIMURA;

    申请日2005-03-16

  • 分类号G06F17/50;G06F9/45;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:45:11

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