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Wafer level bumpless method of making a flip chip mounted semiconductor device package

机译:晶圆级无凸点制造倒装芯片的半导体器件封装的方法

摘要

A wafer level bumpless method of making flip chip mounted semiconductor device packages is disclosed. The method includes the steps of solder mask coating a semiconductor die wafer frontside, processing the solder mask coating to reveal a plurality of gate contact and a plurality of source contacts, patterning a lead frame with target dimple areas, creating dimples in the lead frame corresponding to the gate contact and source contacts, printing a conductive epoxy on the lead frame in the dimples, curing the lead frame and semiconductor die wafer together, and dicing the wafer to form the semiconductor device packages.
机译:公开了制造倒装芯片安装的半导体器件封装的晶片级无凸点方法。该方法包括以下步骤:焊料掩膜涂覆半导体管芯晶片的正面;处理焊料掩膜涂层以露出多个栅极接触和多个源极接触;对具有目标凹坑区域的引线框架进行构图;在对应的引线框架中形成凹坑。在栅极触点和源极触点之间,将导电环氧树脂印刷在凹坑中的引线框架上,将引线框架和半导体管芯晶圆固化在一起,然后对晶圆进行切割,以形成半导体器件封装。

著录项

  • 公开/公告号US7202113B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MING SUN;DEMEI GONG;

    申请/专利号US20050149954

  • 发明设计人 MING SUN;DEMEI GONG;

    申请日2005-06-09

  • 分类号H01L21;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:00:18

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