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Method and apparatus for real-time measurement of trace metal concentration in chemical mechanical polishing (CMP) slurry

机译:实时测量化学机械抛光(CMP)浆料中痕量金属浓度的方法和设备

摘要

A system (and method) for real-time measurement of trace metal concentration in a chemical mechanical polishing (CMP) slurry, includes an electromagnetic radiation flow cell carrying a CMP slurry, a slurry pickup head coupled to the flow cell, and an analyzer for measuring properties of the slurry flowing through the flow cell.
机译:用于实时测量化学机械抛光(CMP)浆料中痕量金属浓度的系统(和方法),包括携带CMP浆料的电磁辐射流通池,耦合到流通池的浆料提取头以及用于分析仪的分析仪测量流过流通池的浆料的特性。

著录项

  • 公开/公告号US7333188B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 THEODORE G. VAN KESSEL;

    申请/专利号US20040953380

  • 发明设计人 THEODORE G. VAN KESSEL;

    申请日2004-09-30

  • 分类号G01N21;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:09:35

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