声明
摘要
1绪论
1.1液晶材料
1.2医药温控液晶材料
1.3痕量金属元素分析方法
1.3.1痕量分析
1.3.2常用的痕量金属分析手法
1.4本文的基本构想和研究内容
2医药温控液晶及痕量金属杂质的影响实例
2.1液晶材料的性质
2.2医药温控液晶材料的性质和应用
2.2.1医药温控液晶材料的性质和原理
2.2.2医药温控液晶材料在医药领域应用
2.3医药温控液晶材料中各类杂质的影响以及实例
2.3.1液晶中物理性杂质
2.3.2液晶中化学性杂质
2.4医药温控液晶材料中金属杂质
2.4.1液晶生产过程以及液晶中金属杂质的来源
2.4.2医药温控液晶中金属杂质对于性能的影响
2.4.3金属杂质造成的医药温控器件异常实际案例解析
2.5液晶材料中痕量金属杂质分析技术的比较
3电感耦合等离子体技术以及液晶相关配置改造
3.1引言
3.2 ICPMS的发展
3.3 ICP-MS的特点
3.4 ICP-MS的基本原理结构及针对液晶材料的设备配置
3.4.1 ICP-MS基本原理
3.4.2 ICP-MS各部件介绍及针对液晶材料测试的配置
3.4.3液晶材料测试配置有机加氧系统以及改造
4痕量金属杂质的ICP-MS分析方法开发
4.1引言
4.2试验方法
4.2.1仪器以及主要设备配置
4.2.2主要试剂以及溶液配制
4.2.3器皿以及工作环境
4.2.4样品处理方式以及测试参数的选定
4.2.5定量方法
4.3测试数据中的干扰分析
4.3.1物理性的干扰
4.3.2质谱性干扰
4.4结果与讨论
4.4.1两种前处理方式的数据比较
4.4.2方法的精密度和检测限
4.4.3方法回收率实验
4.4.4小结
5.液晶中ICP-MS分析方法的电学测试验证
5.1液晶电学性能测试介绍
5.2试验设备及材料
5.2.1主要实验仪器
5.2.2主要实验材料
5.2.3主要设备介绍
5.3电学验证试验过程
5.3.1 VHR测试条件的确认
5.3.2 VHR测试数据与ICPMS测试结果的相关性
5.4小结
6.结论与展望
6.1结论
6.2展望
致谢
参考文献
附录
南京理工大学;