首页> 外国专利> Semiconductor device including a strained superlattice layer above a stress layer

Semiconductor device including a strained superlattice layer above a stress layer

机译:包括应力层上方的应变超晶格层的半导体器件

摘要

A semiconductor device may include a stress layer and a strained superlattice layer above the stress layer and including a plurality of stacked groups of layers. More particularly, each group of layers of the strained superlattice layer may include a plurality of stacked base semiconductor monolayers defining a base semiconductor portion, and at least one non-semiconductor monolayer constrained within a crystal lattice of adjacent base semiconductor portions.
机译:半导体器件可以包括应力层和在应力层上方并且包括多个堆叠的层组的应变超晶格层。更具体地,应变超晶格层的每层层可包括限定基础半导体部分的多个堆叠的基础半导体单层,以及约束在相邻基础半导体部分的晶格内的至少一个非半导体单层。

著录项

  • 公开/公告号US7612366B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROBERT J. MEARS;SCOTT A. KREPS;

    申请/专利号US20060457256

  • 发明设计人 ROBERT J. MEARS;SCOTT A. KREPS;

    申请日2006-07-13

  • 分类号H01L29/06;H01L31/0328;H01L31/072;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:30:56

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号