机译:荧光膜,成膜方法,多层介电膜,光学元件,光学系统,成像单元,用于测量光学特性的仪器,用于测量光学特性的方法,曝光装置,曝光方法和装置
公开/公告号WO2009113544A1
专利类型
公开/公告日2009-09-17
原文格式PDF
申请/专利号WO2009JP54552
申请日2009-03-10
分类号C09K11/61;C09K11;C09K11/85;G01J1/02;G02B6/06;H01L21/027;
国家 WO
入库时间 2022-08-21 19:16:55