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光学特性测量装置及方法、曝光装置及方法及组件制造方法

摘要

提供一种光学特性测量装置及方法、曝光装置及方法、及组件制造方法。由于光学特性测量装置(90)中设有光学系统单元(93),因此可一并测量照明光学系统之照明形状及大小、投影光学系统之波面像差、照明光之偏振状态。因此,例如在以变形照明之一种的偏振照明进行曝光时,只要根据该测量结果调整各种光学系统,即可实现高精度的曝光。其中,该光学系统单元(93)将用以使照明光通过的开口部(97)、用以测量波面像差之微透镜阵列(98)、用以测量照明光之偏振光检测系统(99)选择性地配置于照明光之光路上。

著录项

  • 公开/公告号CN100517569C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社尼康;

    申请/专利号CN200580026943.0

  • 发明设计人 贝濑浩二;藤井透;水野恭志;

    申请日2005-08-09

  • 分类号H01L21/027(20060101);G01M11/02(20060101);G03F7/20(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人许海兰

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/027 授权公告日:20090722 终止日期:20140809 申请日:20050809

    专利权的终止

  • 2009-07-22

    授权

    授权

  • 2007-09-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-18

    公开

    公开

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