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International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics
International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics
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1.
Calculation of exciton suppression in quantum well filled by 2D electrongas and resultant modification of modulation spectra,
机译:
二维电子气填充量子阱中激子抑制的计算以及调制光谱的修正,
作者:
Ivan A. Avrutsky
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Alexey V. Vosmishev
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
2.
Methods and apparatus for optical diagnostics with high-accuracypolarimetry,
机译:
用高精度偏振光学进行光学诊断的方法和设备,
作者:
Yaroslav Shopa
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Modest Kravchuk
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
O.G. Vlokh
;
Physical Optics Institute
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
3.
Application of surface plasmon resonance for the investigation ofultrathin metal films,
机译:
表面等离子体共振在超铀金属膜研究中的应用
作者:
Sergey A. Kostioukevitch
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Yuri M. Shirshov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.P. Matsas
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Alexander V. Stronski
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Yuri V. Subbota
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Vladimir I. Chegel
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Peter E. Shepelyavi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
4.
Use of physical criteria for solving equations of effective medium a
机译:
使用物理准则求解有效介质a的方程
作者:
Valerie A. Ligachov
;
Moscow Power Engineering Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Anatolyi I. Popov
;
Moscow Power Engineering Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Sergei N. Stuokach
;
Moscow Power Engineering Institute
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《》
|
1995年
5.
Laser microscopy of electronic devices
机译:
电子设备的激光显微镜
作者:
Colin J. Sheppard
;
Univ. of Sydney
;
Sydney NSW
;
Australia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
6.
Recording media based on As-S thin films prepared at low temperature
机译:
基于低温制备的As-S薄膜的记录介质
作者:
M.L. Trunov
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
N.D. Savchenko
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
N.Y. Baran
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
V.M. Rubish
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
7.
Anomalies of photoacoustic response in CdS/Y-zeolite system
机译:
CdS / Y-沸石系统中的光声响应异常
作者:
I.V. Blonskij
;
Institute of Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
M.S. Brodyn
;
Institute of Physics
;
Kiev-2
;
Ukraine
;
V.A. Tkhoryk
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Piotr M. Tomchuk
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.G. Filin
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
German M. Telbiz
;
Institute of Physical Chemistry
;
Kyiv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
8.
Cathodoluminescent characteristics and light technical parameters of thin-film screens based on oxides and oxysulfides of rare-earth elements
机译:
基于稀土元素的氧化物和氧硫化物的薄膜屏幕的阴极发光特性和光技术参数
作者:
Vyacheslav D. Bondar
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Myroslav Grytsiv
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Arkady Groodzinsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Mykhailo Vasyliv
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
9.
Formation of phase-change and relief-change recording media by joint oxidative thermodecomposition of hexacarbonyls on the surface
机译:
通过表面上六羰基的联合氧化热分解形成相变和浮雕变化记录介质
作者:
D.A. Grinko
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.A. Krujchin
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
10.
Holographic interferometer based on multimode light-guiding bundles
机译:
基于多模导光束的全息干涉仪
作者:
O.V. Zolochevskaja
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
K.A. Gnatovskij
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
11.
Intracavity titanium laser spectroscopy with controlled sensitivity
机译:
可控灵敏度的腔内钛激光光谱
作者:
V.B. Andrienko
;
Scientific Research Ctr. Sonar
;
Kiev
;
Ukraine
;
O.N. Galkin
;
Scientific Research Ctr. Sonar
;
Kiev
;
Ukraine
;
Y.N. Parkhomenko
;
Scientific Research Ctr. Sonar
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
12.
Inverse problem solution in ellipsometry
机译:
椭圆仪的反问题解决方案
作者:
L.A. Zabashta
;
Sumy State Univ.
;
Sumy
;
Ukraine
;
O.I. Zabashta
;
Institute of Applied Physics
;
Sumy
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
13.
Investigation of thin films of high- and low-absorbing substances by the method of spectroellipsometry with excitation of surface polaritons
机译:
用表面极化子激发的分光光度法研究高吸收和低吸收物质的薄膜
作者:
Igor A. Shaikevich
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
P.V. Kolesnik
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
L.Y. Melnichenko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.Y. Pasko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
14.
Luminescent express method for diagnostics of inhomogeneities in semiconductors
机译:
诊断半导体不均匀性的发光表示方法
作者:
Aleksandr F. Singaevsky
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Grigory S. Pekar
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
15.
Measurement of reflection factor of recording coating of optical information carrier on cylindrical substrate
机译:
圆柱形基材上光信息载体记录涂层反射系数的测量
作者:
A.D. Leonetz
;
Institute for Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.G. Kravetz
;
Institute for Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Andrey A. Kryuchin
;
Institute for Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
16.
Methods of testing light-emitting elements and devices for middle- and far-IR spectral regions based on negative luminescence phenomena
机译:
基于负发光现象的中,远红外光谱区域的发光元件和器件的测试方法
作者:
Sergey S. Bolgov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 16
;
Ukraine
;
Victor A. Botte
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Lyudmila I. Konopaltseva
;
Scientific-Research
;
Engineering-Introduction Ctr. of Priority Technologies on Optical
;
Kiev
;
Ukraine
;
Victor I. Pipa
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Anna P. Savchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
17.
New method and calculation program to determine life-time of inhomogeneously broadened transitions
机译:
确定不均匀加宽跃迁寿命的新方法和计算程序
作者:
Stanislav G. Rozuvan
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
K.P. Rozuvan
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Igor A. Shaykevich
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Eugen A. Tikhonov
;
Institute of Physics
;
Kiev 217
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
18.
Optical parameters of chalcogenide glass probe elements for fiber optic temperature sensors
机译:
光纤温度传感器用硫族化物玻璃探针元件的光学参数
作者:
Ivan Rosola
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
Lev Kozich
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
Vadim Kozak
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
Alexander A. Kikineshi
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
19.
Optical phonons in layer PbI2 crystals with stacking faults
机译:
具有堆叠缺陷的PbI2层晶体中的光子
作者:
N.A. Davydova
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.A. Bibik
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
20.
Optical test method of HTSC structures for creating miniature elements and devices for the optical-instrument-building industry
机译:
用于制造光学仪器的微型元件的HTSC结构的光学测试方法和装置
作者:
I.V. Korotash
;
Institute of Metal Physics
;
Scientific-Research En gineering-Introduction Ctr. of Prior
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.M. Rudenko
;
Institute of Metal Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
21.
Photoluminescence diagnostic of semi-insulating materials for ion-implanted and quantum-size structures on gallium-arsenide-based microopto- and quantum electronics devices
机译:
基于砷化镓的微光和量子电子器件上离子注入和量子尺寸结构的半绝缘材料的光致发光诊断
作者:
F.V. Motsnyi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Mikhail P. Lisitsa
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
22.
Porous silicon layers for optical recording
机译:
光学记录用多孔硅层
作者:
E.N. Salkova
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Constantin Nelep
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.B. Kaganovich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
A.V. Savchuk
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
T.A. Sergan
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
23.
Raman scattering and photoluminescence of Beta-ZnP2 crystals
机译:
Beta-ZnP2晶体的拉曼散射和光致发光
作者:
Tsezarii A. Kryskov
;
Pedagogical Institute
;
Kamianets-Podilskyi
;
Ukraine
;
Antonina A. Gubanova
;
Pedagogical Institute
;
Kamianets-Podilskyi
;
Ukraine
;
Ruslan Poveda
;
Pedagogical Institute
;
Kamianets-Podilskyi
;
Ukraine
;
Mykola U. Bilyi
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Victor A. Gubanov
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Igor Dmitruk
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
24.
Rapid multichannel (N*8) system for infrared and mm-wave investigations
机译:
快速多通道(N * 8)系统,用于红外和毫米波研究
作者:
Vladimir P. Kuzkov
;
Main Astronomical Observatory
;
Kiev-179
;
Ukraine
;
Anatoliy M. Kudelja
;
State Research Ctr. Fonon
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.Y. Larkin
;
State Research Ctr. Fonon
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
25.
Spectral diagnostics of laser erosion plasma of mercury chalcogenide targets
机译:
硫属硫化物靶的激光腐蚀等离子体的光谱诊断
作者:
B.K. Kotlyarchuk
;
Institute of Applied Problems of Mechanics
;
Mathem atics
;
Lviv
;
Ukraine
;
D.I. Popovych
;
Institute of Applied Problems of Mechanics
;
Mathem atics
;
Lviv
;
Ukraine
;
V.K. Savchuk
;
Institute of Applied Problems of Mechanics
;
Mathem atics
;
Lviv
;
Ukraine
;
V.G. Savitsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
26.
Structural morphology features and photoluminescence spectroscopy of IR-photosensitive HgCdTe/CdTe
机译:
红外光敏HgCdTe / CdTe的结构形态特征和光致发光光谱
作者:
Lyudmila A. Karachevtseva
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 187
;
Ukraine
;
Alexey V. Lyubchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 7
;
Ukraine
;
Nina Khilimova
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
27.
Determining optical constants of thin film on substrate from transmission and reflection data
机译:
根据透射和反射数据确定基板上薄膜的光学常数
作者:
Peter Mrafko
;
Institute of Physics
;
Bratislava
;
Slovak Republic
;
Milan Ozvold
;
Institute of Physics
;
Bratislava
;
Slovak Republic.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
28.
Diagnostics of glassy semiconductors by nonlinear absorptive methods
机译:
非线性吸收法对玻璃态半导体的诊断
作者:
Ishtvan V. Fekeshgazi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Konstantin V. May
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.M. Mitsa
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.V. Roman
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
29.
Evaluation of the measuring errors of the surface properties of substances with an optical-digital diagnostic system
机译:
用光学数字诊断系统评估物质表面特性的测量误差
作者:
Leonid I. Muravsky
;
Institute of Physics
;
Mechanics
;
Lviv
;
Ukraine
;
Roman S. Batchevsky
;
Institute of Physics
;
Mechanics
;
Lviv
;
Ukraine
;
Arkadiy I. Stefansky
;
Institute of Physics
;
Mechanics
;
Lviv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
30.
Excitonic spectra of ternary compounds on the basis of AgI
机译:
基于AgI的三元化合物的激子谱
作者:
Vladimir K. Miloslavsky
;
Kharkov State Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine
;
O.N. Yunakova
;
Kharkov State Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine
;
Jia-Lin Sun
;
Kharkov State Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
31.
HgCdTe infrared linear arrays for 3-5- and 8-12-um wavelength regions
机译:
HgCdTe红外线性阵列,适用于3-5-um和8-12um波长范围
作者:
Sergey D. Darchuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Y.P. Derkach
;
Kiev Institute of Microdevices
;
Kiev
;
Ukraine
;
Y.G. Kononenko
;
Kiev Institute of Microdevices
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.A. Petryakov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.P. Reva
;
Kiev Institute of Microdevices
;
Kiev
;
Ukraine
;
Fiodor F. Sizov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir V. Tetyorkin
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
32.
Increased temperature accuracy of the cathode ray tube camera based on digital signal processing
机译:
通过数字信号处理提高了阴极射线管相机的温度精度
作者:
Vladimir Porev
;
National Technical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir N. Borovitsky
;
National Technical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergey Popov
;
National Technical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
33.
Investigation of photolysis and photochemical transformations in metal layer halides with optical methods
机译:
用光学方法研究金属层卤化物中的光解和光化学转变
作者:
Vyacheslav V. Bondar
;
Lviv State Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Arkady Groodzinsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Stepan Popovych
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Yaroslav Pastyrsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Olena Savchuk
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
34.
Kramers-Kronig relations failure in the presence of additional light waves
机译:
在存在其他光波的情况下Kramers-Kronig关系失败
作者:
M.I. Strashnikova
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.V. Mozdor
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
35.
Laser complex for investigation of semiconductor nonlinear constants
机译:
用于研究半导体非线性常数的激光复合物
作者:
Vitaly V. Grabovski
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Ishtvan V. Fekeshgazi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Konstantin V. May
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Valentin I. Prokhorenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Dmytro Y. Yatskiv
;
Dynamic Ltd.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
36.
Laser-power measurement technique using the relationship between intensities of photoluminescence bands
机译:
利用光致发光带强度关系的激光功率测量技术
作者:
V.Y. Degoda
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.A. Artamonova
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.E. Rodionov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
37.
Nonlinear absorption of laser pulses in amorphous and crystalline As2S3 thin films
机译:
非晶和晶体As2S3薄膜中激光脉冲的非线性吸收
作者:
Valentin N. Chumash
;
Institute of Applied Physics
;
Chisnau
;
Moldova
;
G.Bostan
;
Institute of Applied Physics
;
Chisnau
;
Moldova
;
I.Cojocaru
;
Institute of Applied Physics
;
Chisinau
;
Moldova
;
Niculae E. Mincu
;
Institute of Optoelectronics
;
Bucharest
;
Romania
;
P.Cerbari
;
Institute of Applied Physics
;
Chisnau
;
Moldova.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
38.
Optical diagnostics of luminescence materials for data recording
机译:
用于数据记录的发光材料的光学诊断
作者:
Vladislav I. Zimenko
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Viacheslav V. Petrov
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vasiliy G. Kravets
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vasily V. Motuz
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Alexander V. Prygun
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.I. Kozheshcurt
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev 11
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
39.
Photoluminescence controls as-grown porous silicon-air interaction
机译:
光致发光控制生长的多孔硅-空气相互作用
作者:
S.P. Dikiy
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
A.D. Sardarly
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
S.V. Baranetz
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Leonid L. Fedorenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 035
;
Ukraine
;
Sergei V. Svechnikov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.B. Kaganovich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
40.
Problems of the diagnostics of waveguide of thin film and volume materials for the creation of hybrid and quasimonolithic integrated optical elements and devices
机译:
用于制造混合和准单片集成光学元件和器件的薄膜和体积材料波导的诊断问题
作者:
Lyudmila I. Konopaltseva
;
Scientific Research Engineering Introduction Ctr. of Priority Technologies on Optic Techni
;
Kiev
;
Ukraine
;
M.I. Schuchenko
;
Scientific Research Engineering Introduction Ctr. of Priority Technologies on Optic Techni
;
Kiev
;
Ukraine
;
N.P. Sytchova
;
Scientific Research Engineering Introduction Ctr. of Priority Technologies on Optic Techni
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
41.
Quantum-well-laser mirror degradation investigated by microprobe optical spectroscopy
机译:
通过微探针光谱研究量子阱激光镜的退化
作者:
C.Corvasce
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
V.Spagnolo
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
G.Scamarcio
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
M.Lugara
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
F.Adduci
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
M.Ferrara
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
M.Sibilano
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
Sergio Pellegrino
;
Alcatel-Telettra Research Ctr.
;
Torino
;
Italy
;
Massimo Del Giudice
;
Alcatel-Telettra Research Ctr.
;
Pomezia
;
Italy
;
M.G. Re
;
Alcatel-Telettra Research Ctr.
;
Vimercate
;
Italy.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
42.
Recording and storage of information in boron-doped silicon using YAG:Nd laser
机译:
使用YAG:Nd激光在掺硼硅中记录和存储信息
作者:
Juris Blums
;
Riga Technical Univ.
;
Riga
;
Latvia
;
Arthur Medvid
;
Riga Technical Univ.
;
Riga
;
Latvia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
43.
Reversible recording medium based on chalcogenide glass
机译:
基于硫属化物玻璃的可逆记录介质
作者:
Andrey A. Kryuchin
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Viacheslav V. Petrov
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
G.Y. Yudin
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Tatyana I. Sergienko
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
44.
Analytical method for determination of absorbing film optical constants and thickness from reflectance spectra
机译:
从反射光谱确定吸收膜光学常数和厚度的分析方法
作者:
Valery V. Filippov
;
Institute of Physics
;
Minsk
;
Belarus.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
45.
Complex method for the determination of thin absorptive film parameters
机译:
确定吸收薄膜参数的复杂方法
作者:
A.M. Kostruba
;
Institute of Physical Optics
;
Kiev
;
Ukraine
;
O.G. Vlokh
;
Institute of Physical Optics
;
Kiev
;
Ukraine
;
R.O. Vlokh
;
Institute of Physical Optics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
46.
Determination of polarizability and surface concentration of biomolecules using surface plasmon resonance experiment
机译:
利用表面等离子体共振实验确定生物分子的极化率和表面浓度
作者:
Yuri M. Shirshov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir I. Chegel
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Yuri V. Subbota
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
E.P. Matsas
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
A.E. Rachcov
;
Institute of Molecular Biology
;
Genetics
;
Kiev
;
Ukraine
;
T.A. Sergeeva
;
Institute of Molecular Biology
;
Genetics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
47.
Determination of profile parameters of planar waveguides
机译:
平面波导轮廓参数的确定
作者:
Dmitry V. Svistunov
;
S.I. Vavilov State Optical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia.
会议名称:
《》
|
1995年
48.
Determination of temperature changes of refractive index and thickness of material in one optical interference experiment
机译:
一次光学干涉实验确定材料的折射率和厚度的温度变化
作者:
Bohdan V. Andriyevsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Mykola O. Romanyuk
;
Institute of Physical Optics
;
Lviv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
49.
Diagnostics of Si-Ge alloys by spectroellipsometry
机译:
分光光度法对硅锗合金的诊断
作者:
Vladimir G. Litovchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergey I. Frolov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Nickolai I. Klyui
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
B.N. Shkarban
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.A. Mitus
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
D.Krueger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Frankfurt (Oder)
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
50.
Diffraction optical elements with deep phase profile obtained with the use of x-ray parallel intensive beam
机译:
通过使用X射线平行强光束获得具有深相位分布的衍射光学元件
作者:
Voldemar P. Koronkevich
;
Institute of Automation
;
Electrometry
;
Novosibirsk
;
Russia
;
G.N. Kulipanov
;
Budker Institute of Nuclear Physics
;
Novosibirsk
;
Russia
;
Oleg A. Makarov
;
Budker Institute of Nuclear Physics
;
Novosivirsk
;
Russia
;
V.P. Nazmov
;
Budker Institute of Nuclear Physics
;
Novosibirsk
;
Russia
;
Valery F. Pindyurin
;
Budker Institute of Nuclear Physics
;
Novosibirsk
;
Russia
;
M.P. Sinyukov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Novosibirsk
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
51.
Displacement interferometer of cylindrical information carrier
机译:
圆柱型信息载体位移干涉仪
作者:
Michael Y. Kolesnikov
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Viacheslav V. Petrov
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vitaly V. Pitsyuga
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev
;
Ukraine
;
Igor V. Kosyak
;
Institute of Information Recording Problems
;
Kiev 11
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
52.
Far-infrared spectroscopy of polar semiconductor superlattices (GaAs-GaPxAs1-x)
机译:
极性半导体超晶格(GaAs-GaPxAs1-x)的远红外光谱
作者:
Nicolas L. Dmitruk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Anatoliy V. Goncharenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
O.S. Gorea
;
State Univ. of Moldova
;
Kiev
;
Ukraine
;
Volodymyr R. Romaniuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
O.M. Tatarinskaya
;
State Univ. of Moldova
;
Kishinev
;
Moldova
;
Evgenij F. Venger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
53.
Four-wave mixing due to ionization of vapor
机译:
蒸汽电离引起的四波混合
作者:
Anatolii I. Khizhnyak
;
Institute of Applied Optics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir B. Markov
;
Institute of Applied Optics
;
Santafe de Bogota
;
Colombia
;
Igor M. Savukov
;
Institute of Applied Optics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Tatiana V. Scherbakova
;
Institute of Applied Optics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
54.
Multilayer photorecording medium and devices for recording and processing of information
机译:
多层光记录介质以及用于记录和处理信息的设备
作者:
Violetta I. Belozertseva
;
Kharkov State Polytechnical Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine
;
Y.A. Lupashko
;
Kharkov State Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine
;
V.V. Mussil
;
Kharkov State Polytechnical Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine
;
A.P. Ovcharenko
;
Kharkov State Univ.
;
Kharkov
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
55.
Nondestructive characterization of porous silicon structures by transient grating technique
机译:
瞬态光栅技术对多孔硅结构的无损表征
作者:
K.Jarasiunas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius Lithuania
;
Lithuania
;
M.Sudzius
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
L.Subacius
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Vilnius
;
Lithuania
;
I.Simkiene
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Vilnius
;
Lithuania
;
V.Mizeikis
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
56.
Nonlinear and interferometric optical methods of diagnostics of semiconductors
机译:
半导体诊断的非线性和干涉光学方法
作者:
Vladimir S. Ovechko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Andrii M. Dmitruk
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
57.
Optical characterization of the structure of SIPOS layers
机译:
SIPOS层结构的光学表征
作者:
I.P. Lisovskii
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir G. Litovchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.B. Lozinskii
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.V. Mischenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Walter Fussel
;
Hahn-Meitner Institute
;
Berlin
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
58.
Optical constants of semiconductors above the fundamental edge
机译:
基本边缘以上的半导体的光学常数
作者:
Tamara A. Kudykina
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
59.
Optical diagnostics of thermoplastic dielectric and semiconductor material in thin layers
机译:
薄层中热塑性介电和半导体材料的光学诊断
作者:
Sergey A. Voronov
;
National Technical Univ. of Ukraine
;
Kiev
;
Ukraine
;
Oleg B. Katkovskiy
;
National Technical Univ. of Ukraine
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergey A. Neduzhiy
;
National Technical Univ. of Ukraine
;
Kiev
;
Ukraine
;
Alexander V. Solovyov
;
National Technical Univ. of Ukraine
;
Kiev
;
Ukraine
;
Yuriy G. Statnikov
;
National Technical Univ. of Ukraine
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
60.
Optical hysteresis and nonlinear light absorption in a-Si:H and a-SiC:H thin films
机译:
a-Si:H和a-SiC:H薄膜的光滞和非线性光吸收
作者:
Valentin N. Chumash
;
Institute of Applied Physics
;
Chisnau
;
Moldova
;
I.Cojocaru
;
Institute of Applied Physics
;
Chisinau
;
Moldova
;
G.Bostan
;
Institute of Applied Physics
;
Chisnau
;
Moldova
;
G.Para
;
Institute of Applied Physics
;
Chisinau
;
Moldova
;
G.de Cesare
;
Univ. di Roma/Sapienza
;
Roma
;
Italy
;
S.La Monica
;
Univ. La Sapienza
;
Roma
;
Italy
;
Gabriella Maiello
;
Univ. La Sapienza
;
Roma
;
Italy
;
A.Ferrari
;
Univ. La Sapienza
;
Roma
;
Italy.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
61.
Optical properties of CdS nanoclusters incorporated in zeolite structures
机译:
掺入沸石结构的CdS纳米团簇的光学性质
作者:
Sergiy G. Shevel
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Volodymyr L. Voznyi
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
German M. Telbiz
;
Institute of Physical Chemistry
;
Kyiv
;
Ukraine
;
Oleksiy V. Shwetz
;
Institute of Physical Chemistry
;
Kyiv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
62.
Raman studies of silicon layers formed by cluster beam deposition
机译:
通过束流沉积形成的硅层的拉曼研究
作者:
M.Ehbrecht
;
Max-Planck-Institut fur Stromungsforschung
;
Gottingen
;
Germany
;
L.Holz
;
Max-Born-Institut fur Nichtlineare Optik und Kurzzeit spektroskopie
;
Berlin
;
Germany
;
F.Huisken
;
Max-Planck-Institut fur Stromungsforschung
;
Goettingen
;
Germany
;
Yu. N. Polivanov
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
V.V. Smirnov
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
O.M. Stelmakh
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
63.
Reconstruction of fundamental absorption spectra of material by its refractive index spectrum in transparency region
机译:
通过透明区域中的折射率光谱重建材料的基本吸收光谱
作者:
Bohdan V. Andriyevsky
;
Lviv State Univ.
;
Institute of Physical Optics
;
Lviv
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
64.
Scattering of laser light from a relief surface with finite conductivity
机译:
激光从浮雕表面的散射具有有限的电导率
作者:
Victor V. Kotlyar
;
Image Processing Systems Institute
;
Samara
;
Russia
;
I.A. Pankov
;
Image Processing Systems Institute
;
Samara
;
Russia
;
Oleg K. Zalyalov
;
Image Processing Systems Institute
;
Samara
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
65.
Scattering of light from binary diffraction gratings with a period less than a wavelength
机译:
来自二元衍射光栅的光的散射,其周期小于一个波长
作者:
Victor V. Kotlyar
;
Image Processing Systems Institute
;
Samara
;
Russia
;
A.A. Proskin
;
Image Processing Systems Institute
;
Samara
;
Russia
;
Oleg K. Zalyalov
;
Image Processing Systems Institute
;
Samara
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
66.
Some peculiarities of dielectric tensor field optical tomography technique
机译:
介电张量场光学层析成像技术的一些特点
作者:
S.Y. Berezhna
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
I.V. Berezhnyi
;
Institute for Physical Optics
;
Lviv
;
Ukraine
;
O.M. Krupych
;
Institute for Physical Optics
;
Lviv
;
Ukraine
;
O.G. Vlokh
;
Institute for Physical Optics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
67.
Ultra-short-pulse nature of superradiation in injection emitters
机译:
注入发射器中超辐射的超短脉冲特性
作者:
Sergey V. Zaitsev
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
Anatoly M. Georgievski
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
68.
Use of surface excitations in semiconductor materials for modulation of IR radiation
机译:
在半导体材料中使用表面激发来调制IR辐射
作者:
Evgenij F. Venger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
I.I. Burshta
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.V. Melnichuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
L.Y. Melnichuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Y.A. Pasechnik
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
69.
Application of the polarized photoluminescence method to the characterization of superlattice corrugations
机译:
偏振光致发光方法在超晶格波纹表征中的应用
作者:
Author(s): Vladimir G. Litovchenko Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine
;
Dmytro V. Korbutyak Institute of Semiconductor Physics Kiev 211 Ukraine
;
S.G. Krylyuk Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine
;
Yurii V. Kryuchenko Institute of Semiconductor Physics Kiev 6 Ukraine
;
V.I. Sugakov Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine
;
Holger T. Grahn Paul-Drude-Institut fuer Festkoerperelektronik Berlin Germany
;
Klaus H. Ploog Paul-Drude-Institut fuer Festkoerperelektronik Berlin Germany.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
70.
Methods and apparatus for optical diagnostics with high-accuracy polarimetry
机译:
用于高精度偏振光学诊断的方法和设备
作者:
Author(s): Yaroslav Shopa Lviv State Univ. Lviv Ukraine
;
Modest Kravchuk Lviv State Univ. Lviv Ukraine
;
O.G. Vlokh Physical Optics Institute Kiev Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
71.
Ambipolar diffusion length measurements in a-Si:H by constant photocurrent method (CPM)
机译:
用恒定光电流法(CPM)测量a-Si:H中的双极扩散长度
作者:
Valerie A. Ligachov
;
Moscow Power Engineering Institute
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
72.
Anomalies of light and sound generation in photoexcited porous silicon
机译:
光激发多孔硅中光和声的产生异常
作者:
I.V. Blonskij
;
Institute of Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
M.S. Brodyn
;
Institute of Physics
;
Kiev-2
;
Ukraine
;
V.A. Tkhoryk
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.G. Filin
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
J.P. Piryatinskij
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
73.
Determination of technological process-induced variations of silicon recombination parameters by infrared and microwave absorption
机译:
红外和微波吸收法测定工艺过程中硅重组参数的变化
作者:
E.Gaubas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
A.Kaniava
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
74.
D-SCAN: an instrument for nondestructive monitoring of growth defects in GaAs wafers
机译:
D-SCAN:一种用于无损监测GaAs晶圆中生长缺陷的仪器
作者:
K.Jarasiunas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius Lithuania
;
Lithuania
;
J.Vaitkus
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
E.Gaubas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
J.Kapturauskas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
R.Vasiliauskas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
75.
Electrographic and electrophotographic reserve materials with dirigible structural sensitometric and operational characteristics
机译:
具有可触及的结构灵敏度和操作特性的电子照相和电子照相储备材料
作者:
Sergey A. Neduzhiy
;
Scientific Research Institute of Photo-Chemical Indus try
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.V. Pavlov
;
Scientific Research Institute of Photo-Chemical Indus try
;
St. Petersburg
;
Russia
;
Yuriy G. Statnikov
;
Scientific Research Institute of Photo-Chemical Indus try
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergey A. Voronov
;
National Technical Univ. of Ukraine
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir G. Syromyatnikov
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Yuriy P. Getmanchuk
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Irina D. Laznikova
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
76.
Establishment of admixtures of heavy and rare-earth elements in cadmium tungstate on luminescence spectra
机译:
发光光谱法在钨镉中重金属和稀土元素混合物的建立。
作者:
Mykola U. Bilyi
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
M.Diab
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
M.A. Krysyuk
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
L.M. Lymarenko
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Z.T. Moroz
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
S.G. Nedelko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
77.
Evidence for the transport-related effects in the photoluminescence from porous silicon
机译:
多孔硅的光致发光中与运输有关的效应的证据
作者:
A.M. Evstigneev
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.V. Sachenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
G.A. Sukach
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
M.A. Evstigneev
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergei V. Svechnikov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
78.
Influence of impurities and thermal treatment temperature on the spectral properties of the chromate luminophors
机译:
杂质和热处理温度对铬酸盐发光体光谱特性的影响
作者:
Mykola U. Bilyi
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
S.G. Nedelko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
O.V. Chukova
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
79.
Interpretation of polarization speckle parameters in optical diagnostics of scattering medium
机译:
散射介质光学诊断中偏振斑点参数的解释
作者:
Oksana I. Barchuk
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Tetiana V. Molebna
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Alexandr G. Chumakov
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vitalij N. Kurashov
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Valeryj V. Marjenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
80.
Investigation of glass structure in As(Sb)-S(Se)-I systems by the methods of Raman spectroscopy and x-ray diffraction
机译:
用拉曼光谱和X射线衍射方法研究As(Sb)-S(Se)-I系统中的玻璃结构
作者:
V.M. Rubish
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
I.Yurkin
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
V.Malesh
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
V.Fedelesh
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
M.L. Trunov
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
D.Semak
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
81.
New methods of designing the interference polarizers and polarizing beam splitters
机译:
设计干涉偏振器和偏振分束器的新方法
作者:
Yury A. Pervak
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 13
;
Ukraine
;
Ishtvan V. Fekeshgazi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
82.
Optical absorption and thermal expansion of semiconductor glasses As-S-Ge by topological transition
机译:
拓扑跃迁对半导体玻璃As-S-Ge的光吸收和热膨胀
作者:
D.Tsiulyanu
;
Technical Univ.
;
Kishinev
;
Moldova
;
N.Gumenyuk
;
Technical Univ.
;
Kishinev
;
Moldova
;
S.Marian
;
Technical Univ.
;
Kishinev
;
Moldova.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
83.
Optical nonlinearities in GaAs at EL2 quenching by short laser pulses
机译:
短激光脉冲在EL2淬火中GaAs的光学非线性
作者:
M.Sudzius
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
L.Bastiene
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
K.Jarasiunas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius Lithuania
;
Lithuania.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
84.
Optical testing of Li2B4O7 crystals by light scattering
机译:
Li2B4O7晶体的光散射光学测试
作者:
Vasilij N. Moiseenko
;
Dniepropetrovsk State Univ.
;
Dniepropetrovsk
;
Ukraine
;
A.V. Vdovin
;
Dniepropetrovsk State Univ.
;
Dniepropetrovsk
;
Ukraine
;
J.V. Burak
;
Institute of Physical Optics
;
Lvov
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
85.
Pecularities of recombination processes in injection lasers based on (InGa)As quantum dots leading to the single longitudinal mode operation at room temperature
机译:
基于(InGa)As量子点的注入激光器中重组过程的特殊性导致室温下的单纵模工作
作者:
Sergey V. Zaitsev
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
N.Y. Gordeev
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
M.P. Soshnikov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
Alexander V. Lunev
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
A.Y. Egorov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
A.E. Zhukov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
V.M. Ustinov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
N.N. Ledentsov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
P.S. Kopev
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
86.
Time-resolved nonlinear polarization spectroscopy for measuring transient absorption and refraction in isotropic materials
机译:
时间分辨非线性偏振光谱法,用于测量各向同性材料中的瞬态吸收和折射
作者:
Victor B. Taranenko
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir Y. Bazhenov
;
Institute of Physics
;
Kiev 2
;
Ukraine
;
Olga A. Kulikovskaya
;
Institute of Physics
;
Kiev 2
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
87.
Utilization of noncritical phase matchings for creation of nonlinear optical frequency converters
机译:
利用非关键相位匹配来创建非线性光学变频器
作者:
Victor I. Zadorozhnii
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev-17
;
Ukraine
;
Nikolai E. Kornienko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev-17
;
Ukraine
;
Lyudmila I. Konopaltseva
;
Scientific-Research Engineering-Introduction Ctr. of Priority Technologies on Optic Techni
;
Kiev
;
Ukraine
;
Arina M. Sytcheva
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Irpen
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
88.
Complex diagnostic of CdTe after under-threshold laser irradiation by photoluminescence photoconductivity and electrophysical methods
机译:
阈下激光辐照后通过光致发光光电导和电物理方法对CdTe的综合诊断
作者:
Vladimir N. Babentsov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Oleksandr I. Vlasenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
P.E. Mozol
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Elena P. Kopishinskaya
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
89.
Enhancement of light diffraction efficiency in semiconductors by microwave electric field: experiment and calculations
机译:
微波电场增强半导体光衍射效率的实验和计算
作者:
L.Subacius
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Vilnius
;
Lithuania
;
V.Gruzinskis
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Vilnius
;
Lithuania
;
E.Starikov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Vilnius
;
Lithuania
;
P.Shiktorov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Vilnius
;
Lithuania
;
K.Jarasiunas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius Lithuania
;
Lithuania.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
90.
Experimental evidence of the Coulomb interaction effects in CdS1-xSex quantum dots
机译:
CdS1-xSex量子点中库仑相互作用效应的实验证据
作者:
G.Ventruti
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
L.Baldassarre
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
M.Lugara
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
V.Spagnolo
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
G.Scamarcio
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
M.Ferrara
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
A.Convertino
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
I.M. Catalano
;
Univ. di Bari
;
Bari
;
Italy
;
Giancarlo C. Righini
;
IROE-CNR
;
Firenze
;
Italy.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
91.
Modulation spectroscopy for determination of integral excitonic absorption in single quantum-well structure
机译:
调制光谱法测定单量子阱结构中的整体激子吸收
作者:
Ivan A. Avrutsky
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Yury N. Pyrkov
;
General Physics Institute
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
92.
New photoacoustic mean for the determination of surface recombination velocity in piezocrystals
机译:
测定压电晶体表面复合速度的新光声平均值
作者:
Vitalyi E. Gusev
;
Moscow State Univ.
;
Moscow
;
Russia
;
Lyudmila N. Makarova
;
Institute of Physics
;
Minsk
;
Belarus.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
93.
Optical probing of magnetic amorphous ribbon subsurface layers
机译:
磁性非晶带下表面层的光学探测
作者:
Leonid V. Poperenko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
M.V. Vinnichenko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Glushkov
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.V. Vovchak
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Glushkov
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
94.
Optical properties and structure of ion-implanted metal films on crystalline lithium niobate
机译:
结晶铌酸锂上离子注入金属膜的光学性质和结构
作者:
Oleg V. Vakulenko
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vasyl S. Staschuk
;
T. Shevchenko Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Borys M. Romanuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Mykola I. Kluy
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
95.
Orientation of single crystal with high-accuracy polarimeter
机译:
高精度旋光仪定向单晶
作者:
Oleg Kushnir
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
O.G. Vlokh
;
Physical Optics Institute
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
96.
Original method of diagnostics and modification of II-VI and III-V semiconductors
机译:
诊断和修改II-VI和III-V半导体的原始方法
作者:
Y.U. Ovsyannikov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Alexander M. Kamuz
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Pavel P. Oleksenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Fiodor F. Sizov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
97.
Photoluminescence and x-ray studies of thin layers down to single quantum wells
机译:
薄层至单量子阱的光致发光和X射线研究
作者:
Alexey V. Svitelskiy
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Galina N. Semenova
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vasily P. Kladko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Tatyana G. Kryshtab
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 10
;
Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
98.
Photoreflectance characterization on GaAs/AlGaAs optical waveguides of multiple quantum-well structure
机译:
多量子阱结构的GaAs / AlGaAs光波导上的光反射特性
作者:
Gwo-Jen Jan
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Yu-Yuan Tai
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Kuo-Tung Hsu
;
Synchrotron Radiation Research Ctr.
;
Taipei
;
Taiwan.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
99.
Spectroscopic method for temperature measurements in active zone of AlxGa1-xAs DQW laser diodes
机译:
光谱法测量AlxGa1-xAs DQW激光二极管有源区的温度
作者:
A.J. Semjonov
;
Max-Born-Institute
;
Berlin
;
Germany
;
B.Kolesov
;
Institute of Inorganic Chemistry
;
Nowosibirsk
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
100.
Application of surface plasmon resonance for the investigation of ultrathin metal films
机译:
表面等离子体共振在超薄金属膜研究中的应用
作者:
Author(s): Sergey A. Kostioukevitch Institute of Semiconductor Physics Kiev 28 Ukraine
;
Yuri M. Shirshov Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine
;
E.P. Matsas Institute of Semiconductor Physics Kiev-28 Ukraine
;
Alexander V. Stronski Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine
;
Yuri V. Subbota Institute of Semiconductor Physics Kiev-28 Ukraine
;
Vladimir I. Chegel Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine
;
Peter E. Shepelyavi Institute of Semiconductor Physics Kiev Ukraine.
会议名称:
《International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics》
|
1995年
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