首页> 外国专利> ATOMIC FORCE MICROSCOPE TIP ARRAYS AND METHODS OF MANUFACTURING SAME

ATOMIC FORCE MICROSCOPE TIP ARRAYS AND METHODS OF MANUFACTURING SAME

机译:原子力显微镜尖端阵列及其制造方法

摘要

The present invention provides methods and apparatus for forming an array of multiple nanotube tips that can be utilized with AFM technology. The multiprobe tips may be independently modified or specifically left unmodified. Software can generate a composite image of data collected from two or more of the independently modified and unmodified tips.
机译:本发明提供了用于形成可以与AFM技术一起使用的多个纳米管尖端的阵列的方法和设备。多探针探头可以独立修改,也可以不修改。软件可以生成从两个或多个独立修改和未修改的提示中收集的数据的合成图像。

著录项

  • 公开/公告号EP2013609A2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARBON NANOPROBES INC.;

    申请/专利号EP20060848402

  • 发明设计人 PATTERSON RANDEN;RUBY BRIAN;

    申请日2006-12-30

  • 分类号G01N23/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:16:43

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号