机译:用于计算机断层摄影设备中的辐射探测器,用于探测例如X射线辐射,具有由砷化铟,磷酸铟,锑酸镓,氧化锌,氮化镓或碳化硅制成的中间层
公开/公告号DE102008025199B3
专利类型
公开/公告日2009-09-17
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20081025199
申请日2008-05-27
分类号H01L31/115;H01L31/18;G01T1/24;G01T1/29;A61B6/03;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 19:09:06