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METHOD FOR MANUFACTURING SOI SUBSTRATE COMBINING SILICON BASED ZONES AND GaAs ZONES

机译:基于硅的地带和GaAs地带相结合的SOI基体制造方法

摘要

The method involves providing a silicon-on-insulator substrate comprising a silicon support (2) with a silicon based thin layer whose orientation is parallel to a plane. A zone of the thin layer is preserved, and a non-preserved zone of the thin layer is removed till a dielectric layer (3) is exposed. The dielectric layer is opened in the non-preserved zone till a silicon face of the support is exposed. A disoriented germanium layer (7) is grown on the dielectric layer by liquid phase epitaxy or lateral epitaxy. Growth of gallium arsenide zone (8) is obtained from the disoriented germanium.
机译:该方法包括提供绝缘体上硅衬底,该绝缘体上硅衬底包括具有硅基薄层的硅支撑体(2),该硅基薄层的取向平行于平面。保留薄层的区域,并去除薄层的未保留区域,直到暴露介电层(3)。在非保留区中打开电介质层,直到露出支撑体的硅面。通过液相外延或侧向外延在介电层上生长取向的锗层(7)。砷化镓区(8)的生长是从取向的锗获得的。

著录项

  • 公开/公告号FR2910700B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-03-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 COMMISSARIAT A LENERGIE ATOMIQUE;

    申请/专利号FR20060055825

  • 发明设计人 LAURENT CLAVELIER;CHRYSTEL DEGUET;

    申请日2006-12-21

  • 分类号H01L21/20;H01L21/762;H01L21/8258;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 19:07:30

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