首页> 外国专利> Method of Manufacturing a Resistivity Changing Memory Cell, Resistivity Changing Memory Cell, Integrated Circuit, and Memory Module

Method of Manufacturing a Resistivity Changing Memory Cell, Resistivity Changing Memory Cell, Integrated Circuit, and Memory Module

机译:电阻率变化存储单元的制造方法,电阻率变化存储单元,集成电路和存储模块

摘要

According to an embodiment, a method of manufacturing an integrated circuit including a plurality of resistivity changing memory cells is provided. The method includes: forming a stack of layers including a resistivity changing layer, a first conductive layer, a second conductive layer, and a patterned masking layer which are stacked above each other in this order; patterning the second conductive layer using the masking layer as a patterning mask; patterning the first conductive layer using the second conductive layer as a patterning mask; and patterning the resistivity changing layer using the first conductive layer as a patterning mask.
机译:根据实施例,提供了一种制造包括多个电阻率改变存储单元的集成电路的方法。该方法包括:形成包括电阻率改变层,第一导电层,第二导电层和图案化的掩模层的顺序堆叠的层的堆叠;使用掩模层作为图案化掩模来图案化第二导电层;使用第二导电层作为图案化掩模来图案化第一导电层;使用第一导电层作为构图掩模构图电阻率改变层。

著录项

  • 公开/公告号US2010032642A1

    专利类型

  • 公开/公告日2010-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHANRO PARK;RAINER LEUSCHNER;

    申请/专利号US20080187258

  • 发明设计人 RAINER LEUSCHNER;CHANRO PARK;

    申请日2008-08-06

  • 分类号H01L21/283;H01L45/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:55:40

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号