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CMP SLURRY COMPOSITION, FOR POLISHING A POLY-CRYSTAL SILICON LAYER, HAVING EXCELLENT POLISHING UNIFORMITY AND A POLISHING METHOD USING THEREOF

机译:CMP抛光组合物,用于抛光多晶硅层,具有优异的抛光均匀性和使用其的抛光方法

摘要

PURPOSE: A CMP slurry composition and a polishing method using thereof are provided to improve the polishing speed of poly-crystal silicon and to secure polishing selectivity for a polish-controlling oxide film.;CONSTITUTION: A CMP slurry composition for polishing a poly-crystal silicon layer contains ultrapure water, an abrasive, a surfactant, and a pH modifier. The surfactant is either a non-ionic surfactant or a gemini type surfactant. The non-ionic surfactant is an ethylene oxide/propylene oxide copolymer marked with chemical formula 1: HO[(CH2CH2O)x(CH(CH3)CH2O)y]H. In chemical formula 1, x and y are natural numbers of 1~40.;COPYRIGHT KIPO 2010
机译:目的:提供一种CMP浆料组合物及其使用的抛光方法,以提高多晶硅的抛光速度并确保对抛光控制氧化膜的抛光选择性。硅层包含超纯水,磨料,表面活性剂和pH调节剂。表面活性剂是非离子表面活性剂或双子型表面活性剂。所述非离子表面活性剂是用化学式1标记的环氧乙烷/环氧丙烷共聚物:(CH 2 CH 2 O)x(CH(CH 3)CH 2 O)y] H。在化学式1中,x和y是1〜40的自然数。; COPYRIGHT KIPO 2010

著录项

  • 公开/公告号KR20100072761A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHEIL INDUSTRIES INC.;

    申请/专利号KR20080131261

  • 发明设计人 CHOUNG JAE HOON;LEE IN KYUNG;

    申请日2008-12-22

  • 分类号C09K3/14;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:32:23

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