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METHOD FOR FABRICATING SUBMICRON PATTERNED SAPPHIRE SUBSTRATE

机译:亚微米图案的蓝宝石衬底的制造方法

摘要

The present invention provides a method for fabricating a submicron patterned sapphire substrate to be able to apply in GaN light emitting diode. The method includes the following steps: forming an etching stop layer on a sapphire substrate; forming a photoresist layer on the etching stop layer; making a photo mask to contact with the photoresist layer; illuminating the photoresist layer with a beam of light by using the photo mask, and developing the photoresist layer to transfer a submicron pattern from the photo mask to the photoresist layer; etching the etching stop layer by using the photoresist layer with the submicron pattern as a mask to form a first etching stop layer; and etching the sapphire substrate with the first etching stop layer to acquire a submicron patterned sapphire substrate.
机译:本发明提供一种用于制造能够应用于GaN发光二极管中的亚微米图案化的蓝宝石衬底的方法。该方法包括以下步骤:在蓝宝石衬底上形成蚀刻停止层;在蚀刻停止层上形成光刻胶层;使光掩模与光致抗蚀剂层接触;通过使用所述光掩模用光束照射所述光致抗蚀剂层,并使所述光致抗蚀剂层显影以将亚微米图案从所述光掩模转移至所述光致抗蚀剂层;通过使用具有亚微米图案的光致抗蚀剂层作为掩模来蚀刻蚀刻终止层,以形成第一蚀刻终止层;用第一刻蚀停止层刻蚀蓝宝石衬底,得到亚微米图案的蓝宝石衬底。

著录项

  • 公开/公告号US2012074097A1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YEEU-CHANG LEE;HSIEN-CHIH HUNG;

    申请/专利号US201113246043

  • 发明设计人 HSIEN-CHIH HUNG;YEEU-CHANG LEE;

    申请日2011-09-27

  • 分类号C23F1/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:31:40

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