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EDGE TERMINATION FOR SUPER JUNCTION MOSFET DEVICES

机译:超级结MOSFET器件的边缘端接

摘要

In one embodiment, a Super Junction metal oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET) device can include a substrate and a charge compensation region located above the substrate. The charge compensation region can include a plurality of columns of P type dopant within an N type dopant region. In addition, the Super Junction MOSFET can include a termination region located above the charge compensation region and the termination region can include an N− type dopant. Furthermore, the Super Junction MOSFET can include an edge termination structure. The termination region includes a portion of the edge termination structure.
机译:在一个实施例中,一种超结金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)器件可以包括衬底和位于该衬底上方的电荷补偿区域。电荷补偿区域可以在N型掺杂剂区域内包括多列P型掺杂剂。另外,超级结MOSFET可以包括位于电荷补偿区域上方的终端区域,并且该终端区域可以包括N-型掺杂剂。此外,超级结MOSFET可以包括边缘终端结构。终止区域包括边缘终止结构的一部分。

著录项

  • 公开/公告号US2013140633A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-06-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DEVA N. PATTANAYAK;

    申请/专利号US201113309444

  • 发明设计人 DEVA N. PATTANAYAK;

    申请日2011-12-01

  • 分类号H01L29/78;H01L21/22;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:47:47

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