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ETCHING PROCESSING APPARATUS CAPABLE OF EFFECTIVELY PROCESSING AN ETCHING PROCESS FOR CHECKING DEFECTS OF A WAFER

机译:能有效地对晶片的缺陷进行检测的蚀刻工艺的蚀刻加工装置

摘要

PURPOSE: An etching processing apparatus is provided to reduce costs and time of an etching process by including a plurality of groove in a wafer jig part and inserting a plurality of wafers into the plurality of groove.;CONSTITUTION: A crucible(100) accepts a wafer. A wafer jig part(200) comprises the wafer. The wafer jig part is formed which can be rotated. The wafer jig part comprises a plurality of grooves. The plurality of grooves is placed at each edge of the wafer jig part.;COPYRIGHT KIPO 2013
机译:目的:提供一种蚀刻处理设备,以通过在晶片夹具部分中包括多个凹槽并将多个晶片插入该多个凹槽中来减少蚀刻工艺的成本和时间。组成:坩埚(100)容纳一个硅片。晶片夹具部分(200)包括晶片。晶片夹具部分形成为可以旋转。晶片夹具部分包括多个凹槽。在晶片夹具部分的每个边缘上放置多个凹槽。; COPYRIGHT KIPO 2013

著录项

  • 公开/公告号KR20120135740A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LG INNOTEK CO. LTD.;

    申请/专利号KR20110054629

  • 发明设计人 KIM JI HYE;HEO SEON;

    申请日2011-06-07

  • 分类号H01L21/3063;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:28:25

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