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Source/Drain Engineering of Devices with High-Mobility Channels

机译:具有高移动性通道的设备的源/漏工程

摘要

The integrated circuit includes a substrate , and the substrate above the channel . The channel comprises a first 1 - compound semiconductor material formed into a group and group elements . There is a gate structure over the channel . And wherein the source / drain regions adjacent to the channel , it is silicon , germanium , and is selected from the group consisting of substantially into a combination of these , and a region formed of a doped Group group semiconductor material . ;
机译:该集成电路包括衬底,以及该衬底在沟道上方。沟道包括形成为族和族元素的第一1-化合物半导体材料。通道上方有一个门结构。并且其中与沟道相邻的源/漏区是硅,锗,并选自基本上由这些组成的组合,以及由掺杂的组族半导体材料形成的区。 ;

著录项

  • 公开/公告号KR101218735B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20100058571

  • 发明设计人 완 클레멘트 싱젠;코 치-신;

    申请日2010-06-21

  • 分类号H01L29/78;H01L29/778;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:25:56

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