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ULTRATHIN BODY FULLY DEPLETED SILICON-ON-INSULATOR INTEGRATED CIRCUITS AND METHODS FOR FABRICATING SAME

机译:超薄绝缘体上完全耗尽的硅集成电路及其制造方法

摘要

Integrated circuits and methods for fabricating integrated circuits are provided. In an embodiment, a method for fabricating an integrated circuit includes providing an ultrathin body (UTB) fully depleted silicon-on-insulator (FDSOI) substrate. A PFET temporary gate structure and an NFET temporary gate structure are formed on the substrate. The method implants ions to form lightly doped active areas around the gate structures. A diffusionless annealing process is performed on the active areas. Further, a compressive strain region is formed around the PFET gate structure and a tensile strain region is formed around the NFET gate structure.
机译:提供了集成电路和用于制造集成电路的方法。在一个实施例中,一种用于制造集成电路的方法包括提供超薄本体(UTB)完全耗尽的绝缘体上硅(FDSOI)衬底。在衬底上形成PFET临时栅极结构和NFET临时栅极结构。该方法注入离子以在栅极结构周围形成轻掺杂有源区。在有源区上执行无扩散退火工艺。此外,在PFET栅极结构周围形成压缩应变区域,并且在NFET栅极结构周围形成拉伸应变区域。

著录项

  • 公开/公告号US2013341722A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RALF ILLGEN;STEFAN FLACHOWSKY;

    申请/专利号US201213530449

  • 发明设计人 RALF ILLGEN;STEFAN FLACHOWSKY;

    申请日2012-06-22

  • 分类号H01L27/12;H01L21/76;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:04:45

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