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Forming a bridging feature using chromeless phase-shift lithography

机译:使用无铬相移光刻技术形成桥接特征

摘要

First and second anchor features are formed on a substrate via a chromeless photolithography process. An elongated bridging feature is formed between the anchor features on the substrate via the chromeless photolithography process. A distance between the anchor features is sufficient to minimize lateral displacement at a center portion of the bridging feature without significant reduction in mechanical stability of the bridging feature.
机译:经由无铬光刻工艺在基板上形成第一锚固特征和第二锚固特征。经由无铬光刻工艺在基板上的锚固特征之间形成细长的桥接特征。锚固部件之间的距离足以使桥接部件的中心部分处的侧向位移最小,而不会显着降低桥接部件的机械稳定性。

著录项

  • 公开/公告号US8603706B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DANIEL B. SULLIVAN;SANGHO KIM;

    申请/专利号US201113269086

  • 发明设计人 SANGHO KIM;DANIEL B. SULLIVAN;

    申请日2011-10-07

  • 分类号G03F1/34;G03F1/44;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:59:02

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