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MASK BLANK SUBSTRATE, MASK BLANK, REFLECTIVE MASK BLANK, TRANSFER MASK, REFLECTIVE MASK, AND METHOD FOR MAKING THESE

机译:蒙版空白基质,蒙版空白,反射蒙版空白,转移蒙版,反射蒙版及其制作方法

摘要

A mask blank substrate is provided with a substrate mark comprising an oblique section. The inclination angle of the substrate mark with respect to a main surface is greater than 45° and less than 90° and the distance from the boundary between the main surface and the substrate mark to the outer periphery of the mask blank substrate is less than 1.5 mm.
机译:掩模空白基板具有包括倾斜部分的基板标记。基板标记相对于主表面的倾斜角大于45°且小于90°,​​并且从主表面与基板标记之间的边界到掩模坯料基板的外周的距离小于1.5。毫米

著录项

  • 公开/公告号KR20140027314A

    专利类型

  • 公开/公告日2014-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOYA CORPORATION;

    申请/专利号KR20137031095

  • 发明设计人 SASAKI TATSUYA;NISHIMURA TAKAHITO;

    申请日2012-05-15

  • 分类号G03F1/38;G03F1/60;H01L21/027;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 15:43:32

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