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NON-VOLATILE MEMORY SYSTEM WITH RELIABILITY ENHANCEMENT MECHANISM AND METHOD OF MANUFACTURE THEREOF

机译:具有可靠性增强机制的非易失性存储器系统及其制造方法

摘要

A method of manufacture of a non-volatile memory system comprising: forming a dielectric layer having a hole; depositing a first electrode in the hole of the dielectric layer; applying an ion source layer over the first electrode; and depositing a second electrode over the ion source layer including: depositing an interface layer on the ion source layer, and applying a cap layer on the interface layer.
机译:一种非易失性存储系统的制造方法,包括:形成具有孔的介电层;以及形成具有孔的电介质层。在介电层的孔中沉积第一电极;在第一电极上施加离子源层;在所述离子源层上沉积第二电极,包括:在所述离子源层上沉积界面层,以及在所述界面层上覆盖层。

著录项

  • 公开/公告号US2015041746A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SONY CORPORATION;

    申请/专利号US201313963796

  • 申请日2013-08-09

  • 分类号H01L45;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:25:31

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