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具有增强的接点可靠性的半导体封装及其制造方法

摘要

所提供的是一种具有增强的接点可靠性的半导体封装及其制作方法。该方法包括:形成包括封装单元,该封装单元包括插入在底层与顶层之间的半导体芯片;以及,在衬底上顺序堆叠所述封装单元。所述底层和所述顶层由具有比半导体芯片模量低的模量的材料形成。所述半导体封装包括:布置在衬底上的至少一个封装单元,所述封装单元包括:具有焊盘的半导体芯片、基本包围所述半导体芯片的底层和顶层、以及覆盖在所述顶层上的再分布结构。所述再分布结构电连接到所述焊盘。

著录项

  • 公开/公告号CN101312172A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200810098529.6

  • 发明设计人 郑显秀;张东铉;金南锡;姜善远;

    申请日2008-05-22

  • 分类号H01L23/485;H01L23/28;H01L23/29;H01L23/31;H01L25/00;H01L25/065;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人陆锦华

  • 地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地

  • 入库时间 2023-12-17 21:02:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-09-05

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L23/485 公开日:20081126 申请日:20080522

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/485 申请日:20080522

    实质审查的生效

  • 2008-11-26

    公开

    公开

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