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Growth of multi-layer group III-nitride buffers on large-area silicon substrates and other substrates

机译:多层III族氮化物缓冲剂在大面积硅衬底和其他衬底上的生长

摘要

A method includes forming a first epitaxial layer over a semiconductor substrate and etching the first epitaxial layer to form multiple separated first epitaxial regions. The method also includes forming a second epitaxial layer over the etched first epitaxial layer. Each epitaxial layer includes at least one Group III-nitride, and the epitaxial layers collectively form a buffer. The method further includes forming a device layer over the buffer and fabricating a semiconductor device using the device layer. The second epitaxial layer could include second epitaxial regions substantially only on the first epitaxial regions. The second epitaxial layer could also cover the first epitaxial regions and the substrate, and the second epitaxial layer may or may not be etched. The device layer could be formed during the same operation used to form the second epitaxial layer.
机译:一种方法包括:在半导体衬底上形成第一外延层;以及蚀刻第一外延层以形成多个分离的第一外延区。该方法还包括在蚀刻的第一外延层之上形成第二外延层。每个外延层包括至少一个III族氮化物,并且这些外延层共同形成缓冲层。该方法还包括在缓冲器上方形成器件层,以及使用该器件层来制造半导体器件。第二外延层可以包括基本上仅在第一外延区域上的第二外延区域。第二外延层也可以覆盖第一外延区域和衬底,并且第二外延层可以被蚀刻或可以不被蚀刻。可以在用于形成第二外延层的相同操作期间形成器件层。

著录项

  • 公开/公告号US9064928B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATIONAL SEMICONDUCTOR CORPORATION;

    申请/专利号US201314059613

  • 发明设计人 JAMAL RAMDANI;SANDEEP R. BAHL;

    申请日2013-10-22

  • 分类号H01L21/02;H01L21/762;H01L29/10;H01L29/66;H01L29/778;H01L29/20;H01L29/205;H01L21/76;H01L29/06;H01L23/485;H01L27/06;H01L27/088;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:19:48

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