首页> 外国专利> Gate dielectric layer having interfacial layer and high-K dielectric over the interfacial layer

Gate dielectric layer having interfacial layer and high-K dielectric over the interfacial layer

机译:具有界面层和界面层上方的高K介电层的栅极介电层

摘要

A semiconductor device includes a substrate having a first active region, a first gate structure over the first active region, wherein the first gate structure includes a first interfacial layer having a convex top surface, a first high-k dielectric over the first interfacial layer, and a first gate electrode over the first high-k dielectric.
机译:半导体器件包括:具有第一有源区的衬底,在第一有源区上方的第一栅极结构,其中,第一栅极结构包括具有凸顶表面的第一界面层,在第一界面层上方的第一高k电介质,在第一高k电介质上方的第一栅电极。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号