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Use of radial basis function networks and hyper-cubes for deviation classification in semiconductor processing equipment

机译:使用径向基函数网络和超立方体在半导体加工设备中进行偏差分类

摘要

A method and system for analyzing data comprising generating a first node, determining a first hypercube for the first node, and determining whether a pattern is within the first hypercube. If the pattern is not within the first hypercube, the method includes determining if the pattern is within a first hyperspheres, the first hyperspheres having a radius equal to a diagonal of the first hypercube.
机译:一种用于分析数据的方法和系统,包括:生成第一节点;确定用于第一节点的第一超立方体;以及确定模式是否在第一超立方体内。如果图案不在第一超立方体内,则该方法包括确定图案是否在第一超球体内,第一超球的半径等于第一超立方体的对角线。

著录项

  • 公开/公告号DE112014000466T5

    专利类型

  • 公开/公告日2015-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 APPLIED MATERIALS INC.;

    申请/专利号DE20141100466T

  • 发明设计人 DERMOT CANTWELL;

    申请日2014-01-14

  • 分类号G06F19;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 14:54:57

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