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SUBSTRATE FOR MOLECULAR BEAM EPITAXY (MBE) HGCDTE GROWTH

机译:分子束外延(MBE)HGCDTE生长的基质

摘要

A semiconductor structure having a first semiconductor body having an upper surface with a non 211crystallographic orientation and a second semiconductor body having a surface with a 211crystallographic orientation, the surface of the second semiconductor body being bonded to a bottom surface of the first semiconductor body. A layer comprising CdTe is epitaxially disposed on the upper surface of the second semiconductor body. The second semiconductor body is CZ silicon, has a thickness less than 10 microns and has a diameter of at least eight inches. A getter having micro-cavities has a bottom surface formed on an upper surface of the first semiconductor body and has an upper surface bonded to a bottom surface of the second semiconductor body.
机译:一种半导体结构,具有第一半导体本体和第二半导体本体,所述第一半导体本体的上表面具有非<211>晶体取向,并且所述第二半导体本体的表面具有<211>晶体取向,所述第二半导体本体的表面与所述半导体衬底的底面键合。第一半导体主体。在第二半导体本体的上表面上外延设置包括CdTe的层。第二半导体主体是CZ硅,厚度小于10微米,直径至少为八英寸。具有微腔的吸气剂具有形成在第一半导体本体的上表面上的底表面和具有结合到第二半导体本体的底表面上的上表面。

著录项

  • 公开/公告号US2015325661A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RAYTHEON COMPANY;

    申请/专利号US201414271727

  • 发明设计人 JEFFREY M. PETERSON;

    申请日2014-05-07

  • 分类号H01L29/32;H01L29/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:37:57

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