首页> 外国专利> SILICON-GERMANIUM (SiGe) FIN FORMATION

SILICON-GERMANIUM (SiGe) FIN FORMATION

机译:silicon-germanium (Sig E) F information

摘要

Construct SiGe fins, pass through: it includes in upward direction containing silicon base layer and a kind of siliceous first fin structure from base that (I), which provides intermediate sub-component,; (II) refines sub-component and passes through the first fin structure of the first and second sides of base and at least part of covering at least part top surface and the layer of preparatory thermal oxide, including Silicon-Germanium (SiGe); (III) further refine the sub-component by the preparatory thermal oxide layer of thermal oxide migrate to Ge content from preparatory thermal oxide attack at least part basal layer and at least part the first fin structure.
机译:构造SiGe鳍片,穿过:它包括向上的,包含硅基层的硅基鳍片和一种硅质的第一鳍片结构,该(I)提供中间的子成分; (II)细化子成分,并穿过基底的第一面和第二面的第一鳍状结构,并穿过至少覆盖至少一部分顶面的一部分以及包括硅锗(SiGe)的制备性热氧化物层; (III)通过预热氧化物的预热氧化物层迁移至Ge含量而进一步细化子组分,所述预热氧化物层从预热氧化物侵蚀至少一部分基础层和至少部分第一鳍片结构。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号