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ACTIVE LIGHT SENSITIVE OR RADIATION SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM, RESIST-COATED MASK BLANK, RESIST PATTERN FORMING METHOD AND PHOTOMASK

机译:活性光敏感或辐射敏感树脂组成,抗蚀剂膜,抗蚀剂涂覆的面膜毛坯,抗蚀剂图案形成方法和光掩模

摘要

(A) a polymer compound having a structure in which a hydrogen atom of a phenolic hydroxyl group is substituted by a group represented by a specific general formula (I), and (B) a polymer compound having a structure in which a hydrogen atom of a phenolic hydroxyl group is substituted Contains compounds that generate acids by irradiation.
机译:(A)具有其中酚羟基的氢原子被特定的通式(I)表示的基团取代的结构的高分子化合物,和(B)具有其中氢原子的氢原子结构的高分子化合物。酚羟基被取代包含通过辐照产生酸的化合物。

著录项

  • 公开/公告号KR20160106680A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-09-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 후지필름 가부시키가이샤;

    申请/专利号KR20167021473

  • 发明设计人 츠치무라 토모타카;

    申请日2015-01-20

  • 分类号G03F7/004;C08F12/16;C08F12/20;C08F12/22;C08F12/32;C08F16/06;C08F212/14;G03F1/22;G03F7/038;G03F7/039;G03F7/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:13:36

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