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Etching liquid for aluminum oxide film and manufacturing method of thin film semiconductor device using the etching liquid

机译:氧化铝膜用蚀刻液及使用该蚀刻液的薄膜半导体装置的制造方法

摘要

An etching solution includes: phosphoric acid having concentration of 30% by weight to 80% by weight; nitric acid having concentration of 10% by weight or less; and surfactant having concentration of 0.0005% by weight to 0.0050% by weight, wherein the etching solution is used for etching an aluminum oxide film having film density of 2.80 g/cm3 to 3.25 g/cm3.
机译:蚀刻溶液包括:浓度为30重量%至80重量%的磷酸;和浓度为10%(重量)或以下的硝酸;以及浓度为0.0005重量%至0.0050重​​量%的表面活性剂,其中所述蚀刻溶液用于蚀刻膜密度为2.80g / cm 3至3.25g / cm 3的氧化铝膜。

著录项

  • 公开/公告号JP6159980B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社JOLED;

    申请/专利号JP20150512288

  • 发明设计人 日高 義晴;東 寛史;

    申请日2014-03-07

  • 分类号H01L21/308;H01L21/306;H01L29/786;H01L21/336;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:57:52

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