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EDGE TERMINATION FOR SUPER JUNCTION MOSFET DEVICES

机译:超级结MOSFET器件的边缘端接

摘要

In one embodiment, a metal oxide semiconductor field effect transistor (" MOSFET ") device may include a substrate and a charge compensation region located above the substrate. The charge compensation region may comprise a plurality of columns with P type dopants in the N type dopant region. The super junction MOSFET may also include a termination region located above the charge compensation region, and the termination region may comprise an N-type dopant. The super junction MOSFET may also include an edge termination structure. The termination region includes a portion of the edge termination structure.
机译:在一实施例中,金属氧化物半导体场效应晶体管(“ MOSFET”)器件可以包括衬底和位于衬底上方的电荷补偿区域。电荷补偿区域可以包括在N型掺杂剂区域中具有P型掺杂剂的多个列。超级结MOSFET还可以包括位于电荷补偿区域上方的终端区域,并且该终端区域可以包括N型掺杂剂。超级结MOSFET还可以包括边缘终端结构。终止区域包括边缘终止结构的一部分。

著录项

  • 公开/公告号KR101709565B1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 비쉐이-실리코닉스;

    申请/专利号KR20147015968

  • 发明设计人 패타나야크 데바 엔.;

    申请日2012-11-30

  • 分类号H01L29/78;H01L21/336;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 13:26:01

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