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Reconstituted wafer-level package dram with conductive interconnects formed in encapsulant at periphery of the package

机译:重构的晶圆级封装dram,在封装的外围具有封装在密封剂中的导电互连

摘要

A microelectronic package includes first and second encapsulated microelectronic elements, each of which includes a semiconductor die having a front face and contacts thereon. An encapsulant contacts at least an edge surface of each semiconductor die and extends in at least one lateral direction therefrom. Electrically conductive elements extend from the contacts and over the front face to locations overlying the encapsulant. The first and second microelectronic elements are affixed to one another such that one of the front or back surfaces of one of the first and second semiconductor dies is oriented towards one of the front or back surfaces of the other of the first and second semiconductor dies. A plurality of electrically conductive interconnects extend through the encapsulants of the first and second microelectronic elements and are electrically connected with at least one semiconductor die of the first and second microelectronic elements by the conductive elements.
机译:微电子封装包括第一和第二封装的微电子元件,每个封装的微电子元件包括具有正面和其上的触点的半导体管芯。密封剂接触每个半导体管芯的至少一个边缘表面并且从其沿至少一个横向方向延伸。导电元件从触点延伸并在正面上方延伸到覆盖密封剂的位置。第一微电子元件和第二微电子元件彼此固定,使得第一半导体管芯和第二半导体管芯中的一个的正面或背面中的一个朝向第一半导体管芯和第二半导体管芯中的另一个的正面或背面中的一个。多个导电互连件延伸穿过第一微电子元件和第二微电子元件的密封剂,并且通过导电元件与第一微电子元件和第二微电子元件的至少一个半导体管芯电连接。

著录项

  • 公开/公告号US9917073B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-03-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INVENSAS CORPORATION;

    申请/专利号US201615196635

  • 发明设计人 ILYAS MOHAMMED;

    申请日2016-06-29

  • 分类号H01L23/48;H01L23/52;H01L29/40;H01L25/065;H01L23/498;H01L25/10;H01L25/18;H01L23/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:58:47

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