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Low noise InGaAs photodiode array

机译:低噪声InGaAs光电二极管阵列

摘要

A photodiode pixel structure for imaging short wave infrared (SWIR) and visible light built in a planar structure and may be used for one dimensional and two dimensional photodiode arrays. The photodiode arrays may be hybridized to a read out integrated circuit (ROIC), for example, a silicon complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) circuit. The photodiode in each pixel is buried under the surface and does not directly contact the ROIC amplification circuit. Charge is transferred form the detector using a junction field effect transistor (JFET) in each pixel. Disconnecting the photodiode from the ROIC amplification circuit enables low dark current as well as double correlated sampling in the pixel.
机译:用于成像短波红外(SWIR)和可见光的光电二极管像素结构内置在平面结构中,并且可以用于一维和二维光电二极管阵列。光电二极管阵列可以与读出集成电路(ROIC)例如硅互补金属氧化物半导体(CMOS)电路混合。每个像素中的光电二极管埋在表面下,并且不直接接触ROIC放大电路。使用每个像素中的结型场效应晶体管(JFET)将电荷从检测器转移。将光电二极管与ROIC放大电路断开连接可实现低暗电流以及像素中的双相关采样。

著录项

  • 公开/公告号US9935151B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PRINCETON INFRARED TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号US201415025072

  • 发明设计人 MARTIN H. ETTENBERG;

    申请日2014-09-25

  • 分类号H01L29/80;H01L27/146;H01L29/66;H01L29/808;H01L31/0304;H01L31/105;H01L31/18;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:55:22

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