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BUMPLESS DIE-PACKAGE INTERFACE FOR BUMPLESS BUILD-UP LAYER BBUL

机译:防撞积层BBUL的防撞模头包装界面

摘要

Embodiments of the present disclosure relate to a bumpless interface to an embedded silicon die in an integrated circuit (IC) package assembly. In one embodiment, the method includes forming a peripheral portion of a dielectric material defining a cavity, disposing at least one die in a cavity, the die including a contact, Depositing a dielectric material, etching the dielectric material to expose the contact, and depositing a conductive material on the contact. Other embodiments may be described and / or claimed.
机译:本公开的实施例涉及到集成电路(IC)封装组件中的嵌入式硅管芯的无扰动接口。在一个实施例中,该方法包括:形成限定腔的电介质材料的外围部分;在腔中布置至少一个管芯,该管芯包括接触;沉积电介质材料;蚀刻该电介质材料以暴露该接触;以及沉积触点上的导电材料。可以描述和/或要求保护其他实施例。

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