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Resistive non-volatile memory and a method for sensing a memory cell in a resistive non-volatile memory

机译:电阻式非易失性存储器和用于感测电阻式非易失性存储器中的存储单元的方法

摘要

A semiconductor device includes an array of memory cells, and a reference voltage generation circuit including a first set of reference memory cells coupled to a first bit line, a second set of reference memory cells coupled to a second bit line, a first capacitor having a first terminal coupled to the first bit line, and a second terminal, a second capacitor having a first terminal coupled to the second terminal of the first capacitor at a first node and a second terminal coupled to the second bit line, an amplifier including a first input selectively coupled to the first node and a second input coupled to an output of the amplifier that provides reference voltage used by sense amplifiers, and a third capacitor including a first terminal coupled to the output of the amplifier and a second terminal coupled to a first supply voltage.
机译:半导体器件包括:存储器单元的阵列;以及基准电压产生电路,该基准电压产生电路包括耦合到第一位线的第一组参考存储器单元,耦合到第二位线的第二组参考存储器单元,第一电容器具有第一端子,耦接至第一位线,以及第二端子,第二电容器,其第一端在第一节点处耦接至第一电容器的第二端,第二端子耦接至第二位线,放大器包括第一输入端选择性地耦合到第一节点,第二输入端耦合到放大器的输出,该放大器提供感测放大器使用的参考电压,第三电容器包括第一端,第一端耦合到放大器的输出,第二端耦合到第一端。电源电压。

著录项

  • 公开/公告号US10224094B1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NXP USA INC.;

    申请/专利号US201815880836

  • 发明设计人 PERRY PELLEY;ANIRBAN ROY;

    申请日2018-01-26

  • 分类号G11C11/44;G11C11/4096;G11C11/16;G11C7/12;G11C11/4099;G11C7/14;G11C7/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:09:28

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