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Flip chip package utilizing trace bump trace interconnection

机译:利用走线凸点走线互连的倒装芯片封装

摘要

A flip chip package includes a substrate having a die attach surface; and a die mounted on the die attach surface with an active surface of the die facing the substrate, wherein the die is interconnected to the substrate via a plurality of copper pillar bumps on the active surface, wherein at least one of the plurality of copper pillar bumps has a bump width that is substantially equal to or smaller than a line width of a trace on the die attach surface of the substrate.
机译:倒装芯片封装包括具有管芯附接表面的基板;以及安装在管芯附接表面上的管芯,其中管芯的有源表面面向衬底,其中管芯经由有源表面上的多个铜柱凸块互连到衬底,其中,多个铜柱中的至少一个凸块具有的凸块宽度基本上等于或小于衬底的管芯附接表面上的迹线的线宽。

著录项

  • 公开/公告号US10707183B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MEDIATEK INC.;

    申请/专利号US201916439707

  • 发明设计人 TZU-HUNG LIN;THOMAS MATTHEW GREGORICH;

    申请日2019-06-13

  • 分类号H01L21;H01L23;H01L23/498;H01L21/56;H01L23/31;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:29:14

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